透射電鏡樣品桿（TEM樣品桿）是透射電鏡中的重要部件之一，主要作用是將待檢測樣品放置在電子束中心，使其能夠被電子束穿過并產(chǎn)生圖像，以進行高分辨率的顯微圖像觀察。

　　TEM樣品桿的工作原理基于電子束的性質(zhì)，電子束可以穿透物質(zhì)，但是會在物質(zhì)中發(fā)生散射。為了得到高質(zhì)量的TEM圖像，需要將樣品放置在電子束中心，使電子束盡可能穿透樣品并減少散射產(chǎn)生的影響。TEM樣品桿的設(shè)計可以使得樣品在以盡量小的角度與電子束相交的情況下，滿足一定的條件進行高分辨率的成像。

　　透射電鏡樣品桿的操作方法包括以下幾個步驟：

　　1.制備樣品：TEM樣品需要制備成極薄的薄片或纖維，通常使用離子薄片機或溶液析出法制備樣品。

　　2.放置樣品：將樣品放置在TEM樣品桿的樣品架上并定位到特定區(qū)域，需要借助顯微鏡或其他精確定位裝置進行操作。

　　3.調(diào)整TEM參數(shù)：在樣品放置完成后，需要根據(jù)樣品類型和所需成像方式調(diào)整TEM參數(shù)，包括電子束能量、聚焦、準直等。

　　4.開始成像：當樣品放置并調(diào)整完畢后，可以開始進行TEM成像。電子束從電子源中發(fā)出并通過TEM樣品桿，穿過樣品后到達能量選擇器，選擇器中只允許特定的電子能量穿過。經(jīng)過選擇器后的電子會被透鏡系統(tǒng)聚焦到投影儀上，形成高分辨率的TEM圖像。

　　整個過程需要經(jīng)過高精度的操作和控制，對設(shè)備要求較高，但能夠獲得高分辨率的顯微圖像，并且樣品直接被放置在電子束中心，能夠進行準確的成像觀察，具有非常重要的作用。