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SEM掃描電鏡是一種利用電子束掃描樣品表面并通過檢測所產(chǎn)生的信號來獲得樣品表面形貌和成分信息的顯微鏡。它與傳統(tǒng)的光學(xué)顯微鏡不同，光學(xué)顯微鏡使用可見光來觀察樣品，而SEM掃描電鏡使用電子束。電子束通過電子槍產(chǎn)生，并通過電磁透鏡系統(tǒng)聚焦到樣品表面。當(dāng)電子束與樣品表面相互作用時，會產(chǎn)生多種信號，包括二次電子、反射電子、散射電子等。這些信號被探測器捕獲并轉(zhuǎn)化為圖像，從而得到樣品表面的形貌信息。SEM掃描電鏡在材料科學(xué)中有著廣泛的應(yīng)用。它可以觀察材料的晶體結(jié)構(gòu)、表面形貌、顆粒分布等。通...

(1)電子光學(xué)合軸掃描電鏡的電子光學(xué)系統(tǒng)由電子槍、聚光鏡、物鏡和物鏡光闌等組成。電子槍發(fā)射的電子必須沿著這些部件的中心軸線穿過，所以要調(diào)節(jié)這些部件同軸，調(diào)節(jié)同軸的過程稱合軸，合軸也稱對中。合軸后圖像亮度最亮，像差最小，分辨率最高，合軸是束流穩(wěn)定的一個主要因素之一。合軸主要包括電子槍合軸和光闌合軸。更換燈絲和在燈絲使用過程中，電子槍燈絲發(fā)射的電子要與聚光鏡和物鏡的光軸對中調(diào)節(jié)，稱鏡筒合軸，或者稱電子槍合軸。電子槍合軸可以機(jī)械調(diào)節(jié)或者自動合軸。合軸是通過電子源的傾斜校正及水平校正...

高通量透射電鏡是一種先進(jìn)的儀器技術(shù)，可以以較高的速度和分辨率觀察材料的微觀結(jié)構(gòu)。本文將介紹高通量透射電鏡的基本原理、儀器特點(diǎn)以及在材料科學(xué)、納米技術(shù)等領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用。高通量透射電鏡的工作原理基于透射電子顯微鏡。它利用電子束通過樣品的方式獲取樣品的顯微圖像。高通量透射電鏡在傳統(tǒng)透射電子顯微鏡的基礎(chǔ)上進(jìn)行了改進(jìn)，增加了自動化控制和并行采集的功能，從而實現(xiàn)了更高的成像速度和樣品處理能力。高通量透射電鏡通過優(yōu)化電子束聚焦和數(shù)據(jù)采集技術(shù)，實現(xiàn)了高速的成像效果。相比傳統(tǒng)透射電子顯微鏡，它...

在現(xiàn)代科學(xué)研究和工業(yè)應(yīng)用中，SEM掃描電鏡被廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生物學(xué)、地質(zhì)學(xué)等領(lǐng)域。它以其高分辨率、準(zhǔn)確性和實時成像等特點(diǎn)，為我們提供了深入了解微觀結(jié)構(gòu)和表面形貌的能力。本文將介紹SEM掃描電鏡的原理、技術(shù)特點(diǎn)以及在不同領(lǐng)域中的重要性。SEM是一種利用高能電子束與樣品相互作用并收集所產(chǎn)生信號來獲取樣品形貌圖像的儀器。其功效主要基于以下幾個原理：次級電子發(fā)射、反射電子計數(shù)、背散射電子計數(shù)以及X射線譜檢測。SEM采用了一個非常精密的系統(tǒng)來生成精確而清晰的圖像。首先，它使用一個聚...

EDS能譜是一種常用于材料分析的技術(shù)，可以快速準(zhǔn)確地確定物質(zhì)的元素組成。本文將介紹EDS能譜分析的基本原理、儀器特點(diǎn)以及在材料科學(xué)、地質(zhì)學(xué)等領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用。EDS能譜分析基于X射線的特性。當(dāng)物質(zhì)被高能電子轟擊后，會產(chǎn)生出各種能量范圍的特征X射線。EDS能譜分析利用能量分散譜儀，測量和記錄物質(zhì)放射出的X射線能譜。EDS能譜分析可以檢測到微量元素的存在，并通過峰強(qiáng)度來判斷元素相對含量。因此，它在材料分析中具有高靈敏度和精確度的優(yōu)勢。無需樣品預(yù)處理，可以直接對樣品進(jìn)行分析。同時，儀...

原子力顯微鏡是一種能夠探測和成像材料表面納米級結(jié)構(gòu)的高精度儀器。它利用微懸臂上的探針與樣品表面原子之間的相互作用力來獲取表面形貌和納米級結(jié)構(gòu)信息。相比于其他掃描探針顯微鏡，原子力顯微鏡具有更高的分辨率和更大的應(yīng)用范圍。本文將介紹原子力顯微鏡的基本原理、結(jié)構(gòu)和應(yīng)用。原子力顯微鏡的基本原理是利用微懸臂上的探針與樣品表面原子之間的相互作用力來獲取表面形貌和結(jié)構(gòu)信息。當(dāng)探針在樣品表面上方移動時，探針和樣品表面原子之間的相互作用力會發(fā)生變化。這種相互作用力的大小取決于探針和樣品表面原子...